Рентгеновский флуоресцентный спектрометр Olympus ВТХ Profiler

ВТХ Profiler – это совмещенные в одном приборе дифрактометр и полноценный рентгенофлуоресцентный спектрометр.

ВТХ Profiler позволяет осуществлять структурный (XRD) и количественный элементный (XRF) неразрушающий анализ состава проб высочайшего качества, позволяя получить самую полную информацию о исследуемом образце и сокращая время на проведение операции.

Возможности и преимущества комбинированного XRD/XRF-анализатора ВТХ Profiler

• Анализ минералогического состава, 2-D-XRD
• Элементный анализ, ED-XRF
• Полная интеграция данных
• Компактность, экономичность, производительность

Работа BTX Profiler основывается на комбинации методов рентгеновской флуоресценции (XRF) и рентгеновской дифракции (XRD) в одном приборе.

Метод XRD-анализа двумерной передачи, основанный на разработках запатентованного проекта Марсианской лаборатории «Curiositi», использует микрофокусные рентгеновские лучи в сочетании с ПЗС-детектором высокого разрешения. Метод, основанный на собственных изобретениях компании OLYMPUS, использует оптимальную траекторию пучка рентгеновской трубки, специальные фильтры и дрейфовый кремниевый детектор (SDD) большей площади

Рентгеноструктурный анализ (XRD) образцов

Источник рентгеновского излучения возбуждает электроны в атоме, а ПЗС-детектор фиксирует двумерную дифракционную картину, возникающую в результате взаимодействия электронов с кристаллическим веществом (фаза). Данная картина носит название кольцо Дебая или Дифракционное кольцо. Каждое кольцо представляет собой максимум дифракционной диаграммы, а яркость кольца – интенсивность. ПЗС-детектор одновременно измеряет все элементы. Программное обеспечение обработки данных преобразует двумерное изображение в график зависимости «интенсивность vs. энергия». Затем энергия переходит на значение 2θ для графика, сопоставимого с данными традиционного дифрактометра. Дифрактограмма, аналогично отпечаткам пальцев, помогает диагностировать минералы. 

Спектральный анализ (XRF)

Рентгеновское излучение миниатюрной трубки возбуждает материал на атомном уровне; в результате чего электроны выбиваются из внутренних оболочек атомов элементов. Пустые места в оболочках занимаются другими электронами атома. Детектор измеряет характеристические энергии, испускаемые элементом при переходе электрона между орбиталями, и по ней идентифицирует присутствующие в материале элементы.

Технические характеристики BTX Profiler

Применение BTX Profiler

Комбинация в приборе BTX Profiler двух методов анализа (2-D XRD и ED-XRF) позволяет осуществлять элементный состав проб и одновременно получать информацию о минералогии материала, что позволяет применять прибор в следующих областях:

• Поиск новых источников энергии
• Разработка новых месторождений полезных ископаемых
• Геолого-технологические исследования
• Минералогический анализ
• Контроль качества руды
• Обогащение руды
• Контроль качества лекарственных средств
• Формирование библиотеки спектров лекарственных средств
• Разработка катализаторов
• Криминалистика
• Коррозионный мониторинг
• Наука и образование