Рентгенофлуоресцентный спектрометр M1 MISTRAL
Настольный спектрометр M1 MISTRAL находит широкое применение в различных областях, одной из которых является анализ толщины покрытия металлов и многослойных систем. Покрытия могут быть нанесены на материал гальваническими (химические, электрохимические) так и вакуумными методами (напыление, комбинированные методы).
Спектрометр производит измерение толщины
- Покрытий никеля, хрома, цинка, кадмия, сплавов олова; свинца, серебра и многих других на самых различных основах (например, сталь или сплавы меди, титана и пр.)
-
Покрытий, нанесенных на неметаллические материалы
-
Покрытий из драгоценных металлов, например, серебра, золота, родия, палладия и других
-
Различных многослойных покрытий, до 12 слоев (!)
Основные преимущества m1 mistral
- Внесен в государственный реестр средств измерений как спектрометр для измерения толщины покрытия (толщиномер покрытий)
-
Широкий диапазон измерения толщины покрытия
-
Прецизионный метод микро рфа обеспечивает низкую погрешность измерения
-
Гибкие конфигурации, позволяющие подобрать оптимальное решение под требуемую задачу
-
Измерение габаритных образцов размером до 200 x 175 x 80 мм
-
Автоматическое измерение по поверхности образца в различных точках, измерение неровных поверхностей;
-
Контроль качества гальванических покрытий
Характеристики
|
Тип прибора
|
стационарный
|
|
Тип образцов
|
драгоценные металлы, реставрация, искусствоведение, археология, полупроводники, микроэлектроника, тонкие пленки
|
|
Метод анализа
|
микрорентгеновская флуоресценция
|
|
Применение
|
области размером от 100 мкм, печатные платы, измерение толщины покрытия
|
Недавно просмотренные товары
