XRF спектрометр Xenemetrix Х-Cite производит неразрушающий качественный и количественный анализ от Фтора(9) до Фермия (100), обеспечивая пределы обнаружения от долей ppm до высоких процентных содержаний.
Компактные спектрометры прекрасно помещаются на стандартном лабораторном столе и включают в себя полностью интегрированную компьютерную систему.
Соответствует стандартам MIL 810E (устойчивости оборудования ко всевозможным стрессам в полевых условиях).
Кремниевый дрейфовый детектор(SDD): обеспечивает возможность анализа с высокой скоростью счета импульсов, улучшенным разрешением – ниже 125 эВ, и быстрым откликом для минимизации времени анализа.
Полностью интегрированный компьютер
Кремниевый дрейфовый детектор высокого разрешения
Мощная рентгеновская трубка с изменяемым размером пятна, разработанная для адаптации к образцам разных размеров
Шесть настраиваемых фильтров для быстрого и точного определения микроэлементов
Полимеры: анализ сырья для производства пластмасс, PVC, добавки, следы
Добыча и производство минерального сырья: цемент, известняк, песок, глина, бокситы, фосфориты, гипс
Переработка нефти: Контроль содержания серы серы в топливе, мониторинг смазочных масел, присадок, продуктов, износа металлических деталей
Металлургия: исследования и контроль качества различных технологических процессов в металлургической промышленности при производстве нержавеющей стали, чугуна, сортировке металлов
Защита окружающей среды: сточные воды, соответствие директиве RoHS, загрязнение атмосферы, почва и грунт
Толщина покрытий и тонкие плёнки: анализ многослойных покрытий, покрытий для стали, примесей
Криминалистика: анализ улик, совпадение материалов, взрывчатые вещества
Продукты питания, парфюмерия и лекарственные препараты: проверка добавок, сырья, качества упаковки и прочее
Научные исследования: исследования в области материаловедения, химической промышленности и др.
Характеристики |
PD Версия |
SDD Версия |
Возможности анализа |
||
Диапазон определения |
Na(11) - Fm (100) |
F(9) - Fm(100) |
Определяемые концентрации |
ppm - 100% |
Доли ppm - 100% |
Генерация рентгеновского излучения |
||
Источник излучения |
35кВ, 9Вт |
40кВ, 18Вт |
Рентгеновская трубка |
Rh/Ag/Mo/W/Pd анод |
|
Способ возбуждения |
Прямое возбуждение с 6 программно-заменяемыми фильтрами |
|
Стабильность |
Точность 0.1% при температуре окружающей среды |
|
Детектирование рентгеновского излучения |
||
Детектор |
Pin-диод, электрически охлаждаемый |
SDD |
Разрешение (FWHM), при 5.9 кэВ |
155 эВ ± 10эВ |
125эВ ± 5эВ |
Окно детектора |
Be |
|
Основные особенности системы |
||
Автосэмплер |
8-позиционный автосэмплер |
|
Рабочая среда |
Воздух/ Вакуум/ Гелий |
|
Источник электропитания |
110-230В 50/60Гц |
|
Обработка сигнала |
Высокоскоростной многоканальный цифровой анализатор |
|
Габариты системы (L x W x H, cм) |
Без упаковки: 55 x 55 x 32, в упаковке: 80 x 80 x 65 |
|
Вес |
50кг (net), 90кг (gross) |
|
Размер камеры |
22x22 см, H=5см |
|
Компьютер |
Встроенный ПК |
|
Программное обеспечение |
||
Системное программное обеспечение |
Програмное обеспечение nEXt™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров |
|
Управление |
Автоматический контроль возбуждения, обнаружения и обработка сигнала |
|
Обработка спектров |
Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных |
|
Алгоритмы количественного анализа |
Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter |
|
Формирование отчета |
Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер |
|
Дополнительные опции |
Автосэмплер на 16 позиций. Устройство для вращения образцов. Программное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. Упрочненный корпус и защита от вибраций. |