3D оптический профилометр (конфокальный микроскоп) S Neox

Описание товара

Прибор был разработан как высокоэффективный оптический трехмерный прифилометр. Система S NEOX превосходит все существующие оптические профилометры, объединяя в одном приборе все технологии конфокальной, интерферометрической профилометрии и технологию переменного фокуса без движущихся элементов в системе измерения.

S NEOX — сочетание лучшего из 3-х методов измерения.

ОТЛИЧИТЕЛЬНЫЕ ОСОБЕННОСТИ:

VSI
Вертикальные сканирующие интерферометры белого света разработаны для измерения шероховатости гладких или умеренно шероховатых поверхностей.

Профилирование VSI (vertical scaning interferometry) обеспечивает разрешение по вертикали в нанометровом диапазоне для любой числовой апертуры. Алгоритмы VSI позволяют системе S NEOX использовать любое увеличение для профилирования с одним и тем же разрешением по Z.

Изменение фокуса (Focus variation) – это технология, была разработана для измерения формы больших грубых поверхностей. Основана она на большом опыте в сфере как конфокальных, так и интерферометрических 3D измерений, и специально разработана для дополнения конфокальных измерений при небольшом увеличении.
Преимуществами данной технологии является измерение поверхности с высокой крутизной склонов (до 86°), высокая скорость измерения и большой диапазон по вертикали.

Данная комбинация возможностей измерения в основном используется в инструментальном производстве.

В конфокальном сканировании система NEOX использует запатентованную технологию Sensofar, действие которой основано на микродисплее.

Микродисплей выполнен на основе сегнетоэлектрических жидких кристаллов на кремнии (FLCoS), быстродействующем устройстве без подвижных элементов, позволяющем быстро и стабильно получать конфокальные изображения, при этом его срок эксплуатации неограничен. В существующих конфокальных микроскопах используются зеркальные сканирующие головки, подвижный механизм, которых ограничивает срок их эксплуатации и увеличивает размывание пикселей при высоком увеличении.

В системе S NEOX используется ПЗС-матрица высокого разрешения 1360х1024 пикселей, и дисплей высокого разрешения 2560х1440. Изображения, полученные при помощи S NEOX, не нуждаются в масштабировании, поэтому они всегда выглядят резкими, яркими и реалистичными на экране.

Техника просмотра конфокального RGB изображения позволяет пользователю рассматривать нанодетали в диапазоне нескольких микрон. LED источники красного, зеленого и синего цвета попеременно засвечивают поверхность, благодаря чему мы получаем три конфокальных изображения. При измерении мы получем информацию с изображением, кодированным по цвету в зависимости от глубины профиля, определенного путем сканирования объективом хроматического изображения поверхности. В результате это дает возможность получения псевдоцветного изображения с качественной информацией о профиле поверхности.

Полное 3D сканирование занимает менее 10 секунд. Для высокоскоростных измерений, и при измерении поверхностей с очень низким отражением камера работает в режиме сканирования 2х2, что позволяет получить полное 3D сканирование за менее чем 3 секунды.

Высококачественные объективы

В системе S NEOX используются самые лучшие объективы CF60-2 Nikon, специально разработанные для корректирования цветовых аберраций и получения резких, точных изображений с высокой контрастностью и высоким разрешением. Линзы Френеля улучшают функциональность и рабочее расстояние, что означает, что объективы в системе S NEOX обеспечивают самый широкий диапазон рабочего расстояния для каждой числовой апертуры.

Компактное исполнение идеально подходит для быстрой и неинвазивной оценки микро- и наногеометрии технической поверхности различной конфигурации.

Вы можете выбрать от портативной системы до размера XXL

Система S NEOX обеспечивает необходимую гибкость, долговечность и продуктивность как в стандартном исполнении, которое используется для НИОКР и в лабораториях контроля качества, так и в сложных конфигурациях, ориентированных на конкретного заказчика, которые используются для контроля за процессом в режиме реального времени и для измерения образцов размером до 700х600 мм.

Технические характеристики:

Области применения:

• дефектоскопия;
• микроэлектромеханические системы;
• микролинзы;
• призмы и пирамиды;
• ЖК дисплеи;
• корпуса;
• материалы;
• солнечные батареи.

Гарантия — 12 месяцев.