Малогабаритный, портативный, рентгенофлуоресцентный анализатор МАРФ-003
Анализатор предназначен для проведения количественного анализа различных проб на элементы от магния до урана, а также для определения поверхностной плотности (толщины) тонкопленочных покрытий.
Состав: Пластиковый корпус пистолетного типа, металлическая аналитическая головка, устройство смены фильтра, рентгеновский излучатель «Магнум», полупроводниковый детектор высокого разрешения SDD фирмы “AmpTek”, спектрометрический тракт (предусилитель, PW3, BP10), аккумулятор Li-Po , органы управления и индикации.
Для работы анализатора необходим КПК (c операционной системой Windows Mobile) или персональный компьютер (ноутбук) с ОС Windows (2000, XP, Vista, Win7).
Основные параметры и характеристики
| Энергетическое разрешение по линии MnK 5,9 кэВ | 160 эВ |
| Энергетическая шкала | от 0 до 15-60 кэВ |
| Число уровней квантования АЦП | 2048 |
| Полезная загрузка на выходе спектрометра | до 27 кГц |
| Параметры рентгеновского излучателя | 4-40 кВ, 1-100 мкА. |
| Материал анода | Ag |
| Способ связи с компьютером | Bluetooth |
| Дальность связи с компьютером | до 10 м. |
| Время работы от аккумулятора | до 4 ч |
| Время заряда аккумулятора (2,2 А/ч) | 4 ч |
| Вес (без компьютера) | 1,2 кг |
| Габаритные размеры | 220*185*62 мм |
| Внешний источник питания | 15В, 1.5А |
Аналитические характеристики
| Предел обнаружения*, Сmin, %, не более, для элементов: | |
| Mg | 2,5 |
| Al, Si | 1,0 |
| P, S | 0,7 |
| Cl, Ar | 0,5 |
| K, Ca, Sc, In, Sn, Sb, Te, I, Xe | 0,2 |
| Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd | 0,1 |
| Ga, Ge, As, Se, Br, Kr, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo | 0,05 |
| Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Tl | 0,1 |
| Pb, Bi, Po, At, Rn, Fr, Ra, Ac, Th, Pa, U | 0,05 |
| * Предел обнаружения может увеличиваться до 10 Cmin в случае сложной матрицы при наложении аналитических линий определяемых элементов. | |
| Диапазон измерения массовых долей элементов, С, % | От Сmin до 100,0 |
| Предел допускаемой относительной погрешности измерений массовых долей элементов, %, не более | |
| при массовой доле анализируемого элемента | |
| С=Cmin | 50 |
| Св. (С=Cmin) до (5·Сmin) включ. | 30 |
| Св. (5·Сmin) до (10·Сmin) включ. | 15 |
| Св. (10·Сmin) до (100·Сmin) включ. | 10 |
| Св. (100·Сmin) | 5 |
| Количество одновременно определяемых элементов | 10 |
