Сканирующий зондовый микроскоп SPM 9700

Зондовый микроскоп сканирует поверхность образца кантилевером, за счет чего возможно получение трехмерного изображения поверхности с высоким разрешением. Нанометровые участки твердых образцов и пленок можно наблюдать как на воздухе, так и в жидкости. Кроме того, с помощью кантилевера возможно исследование электрических и иных свойств, а также построение изображений слоистых структур и определение твердости. Поэтому можно сказать, что область применения микроскопа SPM-9700, как основного инструмента для нанотехнологий, чрезвычайно широка.

Объекты исследования (возможен анализ без пробоподготовки)

• Металлы
• Полупроводники
• Керамика
• Макромолекулы
• Биологические объекты
• Медицина
  

Опции

• Оптический микроскоп с цифровой камерой; волоконно-оптический осветитель, фазовый контраст
• Блоки широко/узкоформатного и глубинного сканирования
• Программа анализа распределения частиц по размерам
• Измерение микротвердости (LFM)
• Двумерное картирование распределения эластичности и сил адгезии на поверхности образцов

C помощью SPM-9700 можно:

Измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:
- механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность);
- электрических (потенциал, проводимость);
- магнитных (распределение намагниченности).

Широкое разнообразие функций 3D изображения при использовании операций с мышью принадлежности.
Использование мыши для изменения масштаба и свободного вращения изображений или изменения увеличения по оси Z. Это позволяет представлять полученные данные различными способами, подтверждая эти данные в режиме реального времени.

Информация о высоте может быть наложена на информацию о физических свойствах. Это позволяет ясно показать соотношения между двумя параметрами. 

В 3D изображениях можно анализировать профили сечения. Если информация о физических свойствах выражена в терминах текстуры, соответствующие профили сечения могут быть показаны и проанализированы в том же месте.

Программное обеспечение для исследования частиц выделяет множество частиц из изображения, полученного с помощью SPM-9700, и рассчитывает характерные значения для каждой частицы, затем анализирует и показывает результаты. Это особенно подходит для статистической обработки данных. Цифровые данные можно экспортировать.

При добавлении климатической камеры сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700 можно превратить в систему серии WET-SPM. Это возможно только для SPM-9700, который оптимизирован для операций в климатической камере благодаря включению таких характеристик, как запатентованный Шимадзу механизм скольжения головки, выполнение операций с передней стороны, открытый дизайн головки и полная автоматизация. Это особенно подходит для образцов, разлагающихся на воздухе и во влажной атмосфере.

• Климатические камеры CH-II / CH-III

Климатические камеры, CH-II (без турбо-молекулярного насоса) и CH-III (с турбомоле-кулярным насосом) были разработаны специально для SPM-9700 как камеры со встроенным демпфером вибраций. Так как камера позволяет контролировать образец и окружающую среду, SPM можно использовать для непосредственного наблюдения образцов, обрабатываемых в контролируемой среде. Большой обзорный порт и два порта для перчаток позволяют обрабатывать образцы внутри камеры. Добавленные опции для in-situ SPM позволяет исследования в реальном времени поверхностных изменений, обусловленных изменениями физических параметров – температуры, влажности, давления, люминесценции, концентрации. Блок SPM можно легко поместить в камеру и выгрузить из нее с тыла, что позволяет использовать его для наблюдений в обычной атмосфере и в контролируемой среде. 

• Контроллер температуры и влажности

Контроллер подсоединен к климатической камере для контроля температуры и влажности.

• Блок подачи газа

Блок подачи газа подсоединен к запасному порту для подачи небольших количеств газа к образцу.

• Блок нагрева и охлаждения образца

Образец, помещенный в SPM, можно нагревать или охлаждать. Блок может функционировать в атмосферных условиях, в зависимости от образца.

• Блок излучение света

Блок пригоден для использования оптоволоконного источника для освещения поверхности образца. Может функционировать в атмосферных условиях.