Прямой металлографический микроскоп ММН-41Э
ММН-41Э — прямой металлографический микроскоп для визуального наблюдения микроструктуры непрозрачных объектов в отраженном свете. Микроскоп применяется для исследований в светлом и темном поле, а также в упрощенном поляризованном свете.
Прибор подходит для задач металлографии, микроэлектроники, материаловедения, контроля качества, а также для исследования кремниевых пластин, полупроводниковых структур, металлических поверхностей, покрытий и шлифов.
Тринокулярная насадка позволяет подключить цифровую камеру для вывода изображения на монитор, фото- и видеофиксации, измерений и документирования результатов наблюдений. Для оснащения комплекса цифровой визуализации могут использоваться цифровые камеры серии МС.
Характеристики модели
| Увеличение, крат | 50 – 1000 |
|---|---|
| Объективы-планахроматы увеличение, крат | 5х; 10х; 20х; 50х; 100х |
| Методы исследования | Отраженный свет: светлое/тёмное поле, ДИК (дифференциально-интерференционный контраст)* |
| Окуляры, увеличение, крат | 10x/22 |
| Наибольшее линейное поле в пространстве изображений, мм | 22 |
| Диапазон перемещения XY координатного столика, мм | 100х85 |
| Максимальная высота образца, мм | 130 |
* - поставляется по дополнительному заказу
Отличительные особенности:
- Прямая металлографическая схема оптимальна для наблюдения непрозрачных объектов в отраженном свете и удобна при работе с широким спектром образцов в лабораторной практике.
- Поддержка светлого и темного поля позволяет выявлять особенности микроструктуры, границы зерен, дефекты поверхности, включения и другие структурные неоднородности.
- Работа в упрощенном поляризованном свете расширяет возможности исследования отдельных типов образцов и повышает информативность наблюдений.
- Применение для кремниевых пластин и полупроводников делает микроскоп востребованным в микроэлектронике, приборостроении и на участках контроля полупроводниковой продукции.
- Диапазон увеличений 50–1000 крат позволяет решать как обзорные, так и более детальные задачи микроструктурного анализа.
- Координатный столик с перемещением 100×85 мм обеспечивает удобную навигацию по образцу и работу с объектами значительного размера.
- Высота образца до 130 мм позволяет исследовать не только стандартные шлифы, но и более габаритные объекты, детали и заготовки.
- Тринокулярная насадка обеспечивает подключение цифровой камеры для вывода изображения на монитор, фотофиксации, видеозаписи и документирования результатов.
- Совместимость с программным обеспечением для микроскопии позволяет использовать микроскоп в составе цифрового комплекса для измерений, анализа и подготовки отчетных материалов.
- Гибкость комплектации дает возможность подобрать решение под конкретные задачи лаборатории: камера, ПО, измерительные принадлежности, дополнительные объективы и окуляры.
Области применения:
- Металлография: исследование микроструктуры металлов и сплавов, анализ шлифов, оценка качества термообработки, покрытий и поверхностных слоев.
- Микроэлектроника: исследование кремниевых пластин, полупроводниковых структур, подложек, проводящих дорожек, контактных площадок и поверхностных дефектов.
- Полупроводниковое производство: визуальный контроль качества пластин, соединений, покрытий и технологических операций на различных этапах производства.
- Материаловедение: исследование структуры металлических и других непрозрачных материалов в прикладных и научных работах.
- Металлургия и машиностроение: контроль качества деталей, выявление дефектов, анализ износа, разрушений, трещин, пор и других структурных неоднородностей.
- Криминалистика и техническая экспертиза: исследование металлических объектов, следов обработки, поверхностных повреждений и особенностей материала.
- Испытательные и заводские лаборатории: рутинный и экспертный контроль продукции, входной контроль материалов и анализ причин отказов.
- НИИ и ВУЗы: проведение научных исследований, обучение методам металлографии, микроэлектроники и микроструктурного анализа.
- Лаборатории цифровой визуализации: работа с камерой и программным обеспечением для фотофиксации, видеоархивирования и измерений.
Для дополнительного заказа:
- Цифровая видеокамера высокого разрешения и программное обеспечение для микроскопа
- Программа для металлографических микроскопов Image Expert
- Объект-микрометр отраженного света ОМО
- Микрометр МОВ-1-16х
Для каких задач подходит микроскоп ММН-41Э?
ММН-41Э применяется для металлографии, микроэлектроники, материаловедения, контроля качества, исследования кремниевых пластин, полупроводников и других непрозрачных объектов в отраженном свете.
Какие методы исследования поддерживает ММН-41Э?
Микроскоп поддерживает наблюдение в светлом поле, темном поле, а также в упрощенном поляризованном свете. В зависимости от комплектации возможно применение ДИК.
Можно ли подключить цифровую камеру?
Да, наличие тринокулярной насадки позволяет подключить цифровую камеру для вывода изображения на монитор, фотофиксации, видеозаписи и измерений.
Подходит ли микроскоп для исследования кремниевых пластин?
Да, ММН-41Э подходит для исследования кремниевых пластин и полупроводниковых структур, что делает его востребованным в микроэлектронике и полупроводниковом производстве.
