Прямой металлографический микроскоп ММН-41
ММН-41 — профессиональный прямой металлографический микроскоп для исследования микроструктуры непрозрачных объектов в отраженном свете. Микроскоп предназначен для металлографии, материаловедения, микроэлектроники, технической экспертизы, производственного контроля и научных исследований.
Микроскоп обеспечивает наблюдение объектов в светлом поле, темном поле и поляризованном свете, что позволяет выявлять границы зерен, дефекты поверхности, микротрещины, поры, включения, неоднородности структуры, особенности покрытий и результаты термообработки металлов и сплавов.
Металлографический микроскоп ММН-41 применяется для исследования:
- металлов и сплавов;
- металлографических шлифов;
- кремниевых пластин;
- полупроводниковых структур;
- микроэлектронных компонентов;
- гальванических и защитных покрытий;
- сварных соединений;
- поверхностных дефектов и следов обработки.
Благодаря тринокулярной визуальной насадке микроскоп может использоваться совместно с цифровыми камерами для фотофиксации, видеозаписи, измерений, подготовки отчетов и цифрового документирования результатов исследований. Для оснащения комплекса цифровой визуализации могут использоваться цифровые камеры серии МС.
Оптическая система микроскопа рассчитана на работу с объективами увеличением от 5× до 100× и обеспечивает суммарное увеличение до 1000 крат. Координатный предметный столик позволяет удобно перемещать исследуемый объект при проведении металлографического анализа и визуального контроля поверхности.
Микроскоп ММН-41 востребован в:
- металлографических лабораториях;
- испытательных центрах;
- отделах технического контроля;
- НИИ и университетах;
- металлургии и машиностроении;
- микроэлектронике и приборостроении;
- лабораториях контроля качества продукции.
Характеристики модели
| Методы наблюдения | В отраженном свете при прямом освещении в светлом и темном поле, а также для исследования объектов в поляризованном свете |
| Увеличение, крат | 50×–1000× |
| Увеличение объективов, крат | 5×; 10×; 20×; 50×; 100× |
| Увеличение окуляров, крат | 10× |
| Наибольшее линейное поле в пространстве изображений, мм | 22 |
| Механическая длина тубуса, мм | Бесконечность («∞») |
| Предметный столик, мм | 185×140 |
| Диапазон перемещения координатного предметного столика, мм | 35×30 |
| Диапазон перемещения оптической головки по колонке в вертикальном направлении, мм | 0–70 |
|
Диапазон перемещения тубуса микроскопа в вертикальном направлении, мм: — с помощью механизма грубой подачи — с помощью механизма микрометрической фокусировки |
0–20 0–2,5 |
| Цена деления механизма микрометрической фокусировки, мм | 0,002 |
| Источник света — лампа накаливания галогенная, В/Вт | 12/50 |
Отличительные особенности:
- Прямой металлографический микроскоп предназначен для исследования непрозрачных объектов в отраженном свете и оптимален для задач металлографии, материаловедения и производственного контроля.
- Наблюдение в светлом и темном поле позволяет выявлять границы зерен, микротрещины, поры, неметаллические включения, поверхностные дефекты, неоднородности структуры и особенности обработки материалов.
- Поддержка поляризованного света расширяет возможности исследования анизотропных объектов и повышает информативность микроструктурного анализа.
- Применение в микроэлектронике и полупроводниковом производстве позволяет использовать микроскоп для исследования кремниевых пластин, подложек, полупроводниковых структур и поверхностных дефектов.
- Диапазон увеличений 50×–1000× обеспечивает выполнение как обзорных, так и детальных металлографических исследований.
- Координатный предметный столик 185×140 мм с диапазоном перемещения 35×30 мм обеспечивает удобную навигацию по исследуемому образцу.
- Тринокулярная насадка позволяет подключать цифровую камеру для фотофиксации, видеозаписи, измерений и вывода изображения на монитор.
- Оптика для работы в отраженном свете обеспечивает исследование металлических поверхностей, шлифов, покрытий и непрозрачных материалов без необходимости применения проходящего света.
- Галогенный источник освещения 12 В / 50 Вт обеспечивает стабильное освещение объекта при металлографических исследованиях.
- Гибкость комплектации позволяет оснастить микроскоп цифровой камерой, программным обеспечением, измерительными принадлежностями и дополнительными аксессуарами под задачи лаборатории.
Области применения:
- Металлография: исследование микроструктуры металлов и сплавов, анализ металлографических шлифов, контроль качества термообработки, покрытий и поверхностных слоев.
- Материаловедение: исследование структуры металлических и других непрозрачных материалов в научных и прикладных работах.
- Микроэлектроника: исследование кремниевых пластин, полупроводниковых структур, контактных площадок, дорожек и поверхностных дефектов.
- Полупроводниковое производство: визуальный контроль качества пластин, соединений, покрытий и технологических операций.
- Металлургия: контроль качества металлов и сплавов, анализ структуры материалов и выявление производственных дефектов.
- Машиностроение: исследование износа деталей, трещин, разрушений, дефектов обработки и поверхностных повреждений.
- Испытательные лаборатории: проведение рутинного и экспертного контроля, входного контроля материалов и анализа причин отказов продукции.
- Научно-исследовательские институты и ВУЗы: проведение научных исследований, обучение методам металлографии, материаловедения и микроструктурного анализа.
- Лаборатории цифровой микроскопии: фотофиксация, видеозапись, измерения и архивирование результатов исследований с использованием цифровых камер и программного обеспечения.
Для дополнительного заказа:
- Цифровая видеокамера высокого разрешения и программное обеспечение для микроскопа
- Программа для металлографических микроскопов Image Expert
- Объект-микрометр отраженного света ОМО
- Микрометр МОВ-1-16х
Для каких задач подходит микроскоп ММН-41?
ММН-41 применяется для металлографии, микроэлектроники, материаловедения, контроля качества, исследования кремниевых пластин, полупроводников и других непрозрачных объектов в отраженном свете.
Какие методы исследования поддерживает ММН-41?
Микроскоп поддерживает наблюдение в светлом поле, темном поле, а также в упрощенном поляризованном свете. В зависимости от комплектации возможно применение ДИК.
Можно ли подключить цифровую камеру?
Да, наличие тринокулярной насадки позволяет подключить цифровую камеру для вывода изображения на монитор, фотофиксации, видеозаписи и измерений.
Подходит ли микроскоп для исследования кремниевых пластин?
Да, ММН-41 подходит для исследования кремниевых пластин и полупроводниковых структур, что делает его востребованным в микроэлектронике и полупроводниковом производстве.
