Инвертированный металлографический микроскоп МЕТАМ ЛВ-41
МЕТАМ ЛВ-41 — инвертированный металлографический микроскоп для исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете.
Микроскоп поддерживает наблюдение в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и по методу дифференциально-интерференционного контраста (ДИК), что делает его эффективным инструментом для металлографии, материаловедения, машиностроения, микроэлектроники и экспертных лабораторных исследований.
Инвертированная конструкция удобна для работы с крупными, тяжелыми и неудобными для переворота образцами. Освещение по Келлеру, тринокулярная насадка и совместимость с цифровыми камерами позволяют использовать прибор не только для визуального анализа, но и для фотофиксации, измерений и документирования результатов.
В комплект поставки входит набор сеток для определения линейных размеров, площадей отдельных структурных составляющих, протяженности линий границ зерен и раздела фаз, а также для классификации структур по площадям, диаметрам и размерам.
Для цифровой визуализации и архивирования изображений может использоваться цифровая камера серии МС.
Таблица характеристик:
| Видимое увеличение микроскопа, крат | 50 - 1500 |
|---|---|
| Визуальная насадка | тринокулярная (светоделение, %: бинокуляр/адаптер 100/0 или 0/100); |
| Окуляры, крат | широкопольные 10x/20 и 15x/16 |
| Револьверное устройство крепления объективов | пятигнездное, вращение в любом направлении |
| Освещение | по Келлеру |
| Тип коррекции объективов | планапохроматы, тубус бесконечность |
| Объективы: увеличение крат/числовая апертура |
5x/0,17; 10x/0,28; 20x/0,50; 50x/0,85; 100x/0,95 100x/1,3 МИ (в составе МЕТАМ ЛВ-41) |
| Модуль ДИК для МЕТАМ ЛВ-41 | с объективами 5x, 10x, 20x |
| Источник света | светодиод |
Современный аналог МЕТАМ ЛВ-41
Для замены инвертированного металлографического микроскопа МЕТАМ ЛВ-41 можно рассматривать ММИ-Р и ММИ-ПРО.
Выбор зависит от требуемых объективов, светлого и тёмного поля, поляризации, ДИК, размеров образца, предметного столика и требований к цифровому анализу.
ММИ-Р и ММИ-ПРО рассматриваются как функционально близкие решения; точное соответствие проверяется по ТЗ.
Отличительные особенности:
- Инвертированная металлографическая схема обеспечивает удобную работу с крупными, тяжелыми и массивными образцами без необходимости их переворота или сложной подготовки.
- Поддержка нескольких методов контрастирования — светлое поле, темное поле, поляризованный свет и ДИК — позволяет адаптировать микроскоп под широкий круг задач металлографии и материаловедения.
- Новые безрефлексные планапохроматические объективы сверхширокого поля обеспечивают высокую контрастность изображения, хорошую коррекцию и снижение паразитной окраски по контуру.
- Широкоугольные окуляры повышают удобство наблюдения и позволяют уверенно работать при длительных исследованиях.
- Освещение по Келлеру обеспечивает корректное формирование светового пучка и стабильные условия наблюдения при различных режимах исследования.
- Растровая осветительная система повышает равномерность освещенности объекта и улучшает качество визуализации микроструктуры.
- Пятигнездное револьверное устройство с вращением в любом направлении ускоряет смену объективов и повышает удобство работы в многорежимных исследованиях.
- Тринокулярная насадка со светоделением позволяет подключить цифровую камеру и использовать микроскоп в составе комплекса цифровой визуализации.
- Светодиодный источник света обеспечивает стабильное освещение, высокий ресурс и удобство эксплуатации в лабораторной практике.
- Наличие измерительных сеток в комплекте поставки позволяет выполнять морфометрический анализ, оценку размеров структурных составляющих, границ зерен и фазовых участков.
Области применения:
- Металлография: исследование микроструктуры металлов и сплавов, анализ шлифов, оценка зеренной структуры, фазовых составляющих и качества термообработки.
- Металлургия: контроль структуры материала, выявление неоднородностей, включений, дефектов и особенностей поверхности после различных технологических операций.
- Машиностроение: анализ качества деталей, покрытий и поверхностных слоев, исследование причин износа, повреждений и разрушений.
- Микроэлектроника: исследование непрозрачных образцов, покрытий, подложек, контактных площадок и других элементов изделий электронной промышленности.
- Материаловедение: прикладные и исследовательские работы по изучению структуры металлических и иных непрозрачных материалов.
- Криминалистика и техническая экспертиза: исследование металлических объектов, следов обработки, поверхностных дефектов и микроструктурных особенностей.
- Испытательные и производственные лаборатории: входной и выходной контроль материалов, рутинные и экспертные металлографические исследования.
- НИИ и специализированные лаборатории: проведение научных исследований и решение прикладных задач с использованием нескольких методов контрастирования.
- Лаборатории цифровой визуализации: фотофиксация, измерения, архивирование изображений и подготовка отчетных материалов с применением цифровой камеры и программного обеспечения.
Для дополнительного заказа:
- Цифровая видеокамера высокого разрешения для микроскопа и программное обеспечение
- Микрометр МОВ-1-16х
