XRF спектрометр Xenemetrix Genius IF производит неразрушающий качественный и количественный анализ от Углерода (6) до Фермия (100), обеспечивая пределы обнаружения от долей ppm до высоких процентных содержаний.
Спектрометр удобно размещается на стандартном лабораторном столе или благодаря укрепленному дизайну (опционально) – в мобильной лаборатории.
Соответствует стандартам MIL 810E (устойчивости оборудования ко всевозможным стрессам в полевых условиях).
Кремниевый дрейфовый детектор(SDD): обеспечивает возможность анализа с высокой скоростью счета импульсов, улучшенным разрешением – ниже 125 эВ, и быстрым откликом для минимизации времени анализа.
Кремниевый дрейфовый детектор для анализа легких элементов (SDD LE): Ультратонкое окно детектора обеспечивает превосходные характеристики для анализа элементов с малым атомным номером.
Вторичные мишени: Genius IF имеет уникальную запатентованную геометрию, сочетающую восемь вторичных мишеней и восемь настраиваемых фильтров, используемых в режиме прямого возбуждения, для оптимального возбуждения всех элементов, которые могут быть обнаружены с помощью EDXRF спектрометра. Рентгеновская трубка возбуждает характеристические K-линии вторичных мишеней (чистого металла), которые используются для возбуждения образца «монохроматически». Широкоугольная геометрия и вторичные мишени обеспечивают отличные результаты при анализе макро, микро и следовых элементов. При использовании вторичных мишеней, пределы обнаружения некоторых элементов могут быть значительно снижены. В результате снижения пределов обнаружения, Genius IF подходит для более широкого ряда целей, которые ранее были не доступны для EDXRF инструментов, и является наиболее универсальным элементным анализатором.
На Genius IF можно также проводить анализ в классическом режиме прямого возбуждения.
Полностью интегрированный компьютер
Кремниевый дрейфовый детектор высокого разрешения
Мощная рентгеновская трубка с изменяемым размером пятна, разработанная для адаптации к образцам разных размеров
Восемь вторичных мишеней и восемь настраиваемых фильтров для быстрого и точного определения микроэлементов
Полимеры: анализ сырья для производства пластмасс, PVC, добавки, следы
Добыча и производство минерального сырья: цемент, известняк, песок, глина, бокситы, фосфориты, гипс
Переработка нефти: Контроль содержания серы серы в топливе, мониторинг смазочных масел, присадок, продуктов, износа металлических деталей
Металлургия: исследования и контроль качества различных технологических процессов в металлургической промышленности при производстве нержавеющей стали, чугуна, сортировке металлов
Защита окружающей среды: сточные воды, соответствие директиве RoHS, загрязнение атмосферы, почва и грунт
Толщина покрытий и тонкие плёнки: анализ многослойных покрытий, покрытий для стали, примесей
Криминалистика: анализ улик, совпадение материалов, взрывчатые вещества
Продукты питания, парфюмерия и лекарственные препараты: проверка добавок, сырья, качества упаковки и прочее
Научные исследования: исследования в области материаловедения, химической промышленности и др.
Характеристики |
SDD Версия |
SDD LE Версия |
Возможности анализа |
||
Диапазон определения |
F(9) - Fm(100) |
C(6) - Fm(100) |
Определяемые концентрации |
Доли ppm - 100% |
|
Генерация рентгеновского излучения |
||
Рентгеновская трубка |
Rh/Ag/Mo/W/Pd анод |
|
Источник излучения |
50кВ, 50Вт |
|
|
Прямое возбуждение с тремя программно-заменяемыми фильтрами |
|
Стабильность |
Точность 0.1% при температуре окружающей среды |
|
Детектирование рентгеновского излучения |
||
Детектор |
SDD |
SDD LE |
Разрешение (FWHM), при 5.9 kэВ |
125эВ ± 5эВ |
|
Окно детектора |
Be |
Тонкое окно для анализа легких элементов |
Основные особенности системы |
||
Автосэмплер |
8/16 позиций |
|
Рабочая среда |
Воздух/ Разрежение/ Гелий |
|
Фильтры |
8 (с возможностью установки необходимых фильтров) |
|
Источник электропитания |
110-230В 50/60Гц |
|
Обработка сигнала |
Высокоскоростной цифровой мультиканальный анализатор |
|
Габариты системы (L x W x H, cм) |
Без упаковки: 55 x 55 x 32, С упаковкой: 80 x 80 x 65 |
|
Вес |
50кг (net), 90кг (gross) |
|
Размер камеры |
22 x 22cм, H=5cм |
|
Компьютер |
Встроенный ПК |
|
Программное обеспечение |
||
Системное программное обеспечение |
Програмное обеспечение nEXt™ , под управлением ОС Microsoft Windows™ + базовый бесстандартный режим фундаментальных параметров |
|
Управление |
Автоматический контроль возбуждения, обнаружения и обработка сигнала |
|
Обработка спектров |
Автоматическое удаление пика утечки и фона. Автоматическая деконволюция пиков. Графической обработки статистических данных |
|
Алгоритмы количественного анализа |
Мультиэлементная регрессия с межэлементной коррекцией (6 моделей) Различные методы вычисления площади пика : gross, net, fit и digital filter |
|
Формирование отчета |
Настраиваемый пользователем вывод данных на принтер |
|
Easy nEXt |
Упрощенное програмное обеспечение для работы в режиме «Pass/Fail» |
|
Дополнительные опции |
Автосэмплер на 16 позиций. Устройство для вращения образцов. Програмное расширение для анализа методом фундаментальных параметров. Укрепленный корпус. Оптимизированный для анализа легких элементов детектор. |